一：背景 1. 讲故事 分析托管和非托管内存暴涨，很多人潜意识里都会想到抓dump上windbg分析，但我说可以用dottrace同样分析出来，是不是听起来有点让人惊...

public class GlobalService { private static IServiceScope? _currentScope; private static readonly Lazylt;stringgt; _serverAddress = new Lazylt;stri...

一：背景 1. 讲故事 在我分析的众多dump中，有一些CPU爆高是因为高频的抛 Exception 导致，比如下面这张图，有 19 个线程都在抛 xxxResultException 异常。 从卦中...

芯片测试中“由 MCU 下载程序，测试芯片内部接口、FLASH 等情况并反馈结果”通常是在生产测试（ATE）或板级测试（ATE-BIT/BIST）阶段使用的一种自测试（B...

一：背景 1. 讲故事 写这一篇是因为昨天看 dottrace 官方文档时，在评论区看到了一条不友好的评论，截图如下： 虽然语气上带有些许愤怒，但说实话人家也...

一、前言 上一节我们实现了在矩形与矩形之间添加连线，光是矩形太单调了，某些问题也暴露不出来，我们本节就来看一下，如何添加一个圆形，且支持圆...

Linq（Language Integrated Query，集成查询语言），顾名思义就是用来查询数据的一种语言（可以看作是一组功能、框架特性的集合）。在.NETFramework3.5（大概200...

在wpf开发中，你有没有需要用到这样的场景，比如：在父窗口显示表单的输入的内容，然后再进行一些处理逻辑等，表单可以很复杂，也可以很简单，下面...

电源管脚接触测试（Power Pin Contact Test）是芯片量产/测试流程中用于确认芯片电源引脚（如 VDD、VSS、AVDD、DVDD 等）是否与测试治具或探针台良好接触的关键...

芯片中的 IO管脚接触测试（IO Pin Contact Test），是芯片测试流程（ATE：Automatic Test Equipment 流程）中非常关键的早期测试环节，主要用于判断芯片引脚是否正...